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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:高低溫冷熱臺

  • 產(chǎn)品型號:Huace650T系列
  • 產(chǎn)品廠商:華測
  • 產(chǎn)品價格:0
  • 折扣價格:0
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
Huace650T高低溫冷熱臺,由華測儀器多位工程師多年開發(fā),其具有多種的測試功能,冷熱臺可配合阻抗分析儀、高阻計、電化學工作 站、數(shù)字原表設備進行功能材料電學的相關測試,采用直接聯(lián)接測試儀表以減少測試導線的影響,同時電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。同時測試功能上也增加了電阻測試、TSDC等測量功能。它能夠在不同測量條件和測量模式下進行連續(xù)和高速的測量。
詳情介紹:


高低溫冷熱臺 
華測儀器Huace650T系列


           Huace650T高低溫冷熱臺,由華測儀器多位工程師多年開發(fā),其具有多種的測試功能,冷熱臺可配合阻抗分析儀、高阻計、電化學工作站、數(shù)字原表設備進行功能材料電學的相關測試,采用直接聯(lián)接測試儀表以減少測試導線的影響,同時電加熱采用直流電加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。在某些,同時測試功能上也增加了電阻測試、TSDC等測量功能。它能夠在不同測量條件和測量模式下進行連續(xù)和高速的測量!

 Huace650T高低溫冷熱臺也可搭配顯微鏡/光譜儀使用。其可在 -185℃ ~ 600℃ 范圍內(nèi)控溫,同時允許進行電學測試、光學觀察和樣品氣體環(huán)境控制。探針臺上蓋與底殼構成一個氣密腔,可往內(nèi)充入氮氣等保護氣體,來防止樣品在負溫下結(jié)霜,或高溫下氧化。也可搭配阻抗分析儀、高阻計、源表等進行相關電參數(shù)測量。使用時還可對樣品氣氛進行控制。這樣既可以保證,即使在很低溫度下,腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實驗,又可以防止樣品發(fā)生氧化。此款溫控探針臺通過杠桿式支架(可根據(jù)用戶測量要求定制用電)。

溫控探針是一款溫度范圍-190℃-600℃的探針臺。使用時還可對樣品氣氛進行控制。這樣既可以保證,即使在極低溫度下,腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實驗,又可以防止樣品發(fā)生氧化。此款通過杠桿式支架,使用的是彎針探針。相比傳統(tǒng)的直針探針,這種設計不僅點針,而且點針力度大,和樣品的電接觸性較好。


項目

類別

參數(shù)

溫控參數(shù)

溫度范圍

負190℃-600℃(負溫需配液氮制冷系統(tǒng))

傳感器/溫控方式

100Ω鉑RTD/PID控制(含LVDC降噪電源)

大加熱/制冷速度

+80℃/min(100℃時),-50℃/min(100℃時)

小加熱/制冷速度

±0.01℃/min

溫度穩(wěn)定性

±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃)

軟件功能

可設溫控速率,可設溫控程序,可記錄溫控曲線

電學參數(shù)

探針

默認為錸鎢材質(zhì)的彎針探針 可選其他種類探針

探針座

杠桿式探針支架,點針力度更大,電接觸性更好

點針

手動點針,每個探針座都可點到樣品區(qū)上位置

探針接口

默認BNC接頭(可選三同軸)可增設腔內(nèi)接線柱(樣品接電引線)

臺面電位

默認為電接地,可選電懸空(作背電極),可選三同軸接口

結(jié)構參數(shù)

加熱區(qū)/樣品區(qū)

28mm X 30mm

樣品腔高

6.3MM   樣品大厚度由探針決定

放樣

打開上蓋后置入樣品再點針,關上蓋后無法移動探針

氣氛控制

氣密腔,可充入保護氣體 *另有真空腔型號

外殼冷卻

可通循環(huán)水,以維持外殼溫度在常溫附近

臺體尺寸/重量

180mm X 130mm X26mm /1500g

配置列表

基本配置

溫控探針臺、mK200B溫控器、外殼循環(huán)水冷系統(tǒng)

可選配件

測試源表、真空系統(tǒng)(僅用于真空型號)、三同軸BNC接口、臺面電懸空、樣品接電引線

二、功能特點

* 可編程精密控溫??煽刂?,也可從上位機軟件控制

* 探針需開蓋移動,樣品臺面電接地

* 探針,分別導通冷熱臺外殼上的4個BNC接口

* 杠桿式探針支架,點針力度大,電接觸性較好

* 彎針探針,點針精準

* 默認氣密腔室,通問2個快速自鎖接頭,可充保護氣體

* 上蓋帶有樣品觀察窗

* 臺體內(nèi)置干燥氣體管道,用于負溫時對視窗的除霜

* 視窗可拆卸與更換,可用不同材質(zhì)窗片實現(xiàn)不同波段光觀察

* 軟件可拓展性強,可提供LabView等語言的SDK


三、可定制更多測試功能

* 介電溫譜測試

* 四探針電阻率測試

* 絕緣電阻測試














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