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產(chǎn)品詳情
簡單介紹:
壓電薄膜壓電系數(shù)分析系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn),采用FPGA數(shù)字技術(shù)為激振器提供穩(wěn)定的測試頻率,配合聲學(xué)與振動公司B&K生產(chǎn)的激振器作為振源,基于華測公司在弱信號采集技術(shù)的優(yōu)勢,設(shè)計的一款用于高溫環(huán)境下的壓電系數(shù)分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以直接分析得出樣品壓電常數(shù)d33隨溫度變化的壓電溫譜圖,可廣泛用于壓電材料(壓電陶瓷、高分子)、鐵電材料以及相關(guān)器件性能的評價與測試。
詳情介紹:
壓電薄膜壓電系數(shù)分析系統(tǒng)
產(chǎn)品優(yōu)勢
1.采用更好的激振器,具備更準(zhǔn)確的振動頻率;2.采用ADA4870 驅(qū)動技術(shù)與B&K激振器匹配,閉環(huán)實(shí)現(xiàn)更穩(wěn)定的加載力;
3.實(shí)現(xiàn)30Hz-140Hz寬范圍測量;
4.減小測量過程中的損耗,準(zhǔn)確測量;
5.采用直流線性加熱,減少渦流加熱噪聲;
6.采用真空電極避免絕緣支架帶來的熱釋電電荷,引入測量系統(tǒng)。
產(chǎn)品參數(shù)
電性能參數(shù)1.范圍:100到10,000 pC/N,
精度Accuracy±2%±1 pC/N;負(fù)載:1.0uF
2.高范圍:10到1000 pC/N,
精度:±2%±1 pC/N,負(fù)載:1.0uF;
3.低范圍:1到100 pC/N,
精度:±2%±0.1 pC/N,負(fù)載: 1.0uF;
4.范圍:d33 0到10 pC/N,
精度:±2%±0.01 pC/N,負(fù)載: 0.1uF;
應(yīng)用領(lǐng)域
在高溫測試過程中能夠除去熱釋電的影響,廣泛用于壓電材料(壓電陶瓷、高分子)、鐵電材料以及相關(guān)器件性能的評價與測試。