高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)

一、高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介：

高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線(xiàn)纜，提高測(cè)試參數(shù)的精 que度，同時(shí)抗干擾能力強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

搭配Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的Huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況以保證測(cè)試過(guò)程的an全；資料保存機(jī)制，當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù)，設(shè)備重新啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。

目前電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設(shè)備，將對(duì)電網(wǎng)造成諧波干擾。從而在高頻、弱信號(hào)測(cè)量過(guò)程中影響弱信號(hào)的采集，華測(cè)儀器公司推出的抗干擾模塊以及采用參數(shù)分析技術(shù),實(shí)現(xiàn)了高達(dá)120MHz的高頻測(cè)量,從而滿(mǎn)足了很多半導(dǎo)體,功能材料和納米器件的測(cè)試需求.

二、消除電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響

 高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。重復(fù)性與穩(wěn)定性好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線(xiàn)纜，提高測(cè)試參數(shù)的準(zhǔn)que度，同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

搭配Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的Huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況以保證測(cè)試過(guò)程的an全；資料保存機(jī)制，當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù)，設(shè)備重新啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。

目前電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設(shè)備，將對(duì)電網(wǎng)造成諧波干擾。從而在高頻、弱信號(hào)測(cè)量過(guò)程中影響弱信號(hào)的采集，華測(cè)儀器公司推出的抗干擾模塊以及采用新的參數(shù)分析技術(shù),實(shí)現(xiàn)了高達(dá)120MHz的高頻測(cè)量,從而滿(mǎn)足了很多半導(dǎo)體,功能材料和納米器件的測(cè)試需求.

三、消除不規(guī)則輸入的自動(dòng)平均值功能 更強(qiáng)數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽

華測(cè)系列阻抗分析儀是采用單測(cè)和分析兩種界面，讓測(cè)試更簡(jiǎn)單。得益于自動(dòng)平衡電橋技術(shù)，在10Hz-50MHz的頻率范圍可以保證0.05%的基本精度。 快達(dá)5ms的測(cè)試速度及高達(dá)50M的阻抗測(cè)試范圍可以滿(mǎn)足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線(xiàn)電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

四、專(zhuān)用高頻測(cè)試線(xiàn)纜，更適合高頻測(cè)量

測(cè)試引線(xiàn)使用4端子對(duì)配置以擴(kuò)展測(cè)量端口，附帶BNC陽(yáng)頭連接板，用于連接高溫爐的測(cè)試夾具，同時(shí)測(cè)試線(xiàn)采用高頻測(cè)試專(zhuān)用測(cè)試線(xiàn)，設(shè)計(jì)兩層屏蔽。更適合高頻介電參數(shù)測(cè)量。

五、高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)儀器優(yōu)勢(shì)：

1、它可以勻速、階梯（升\降溫）、循環(huán)沖擊，真空、氣氛等多種的加熱方式。

2、采用移相觸發(fā)技術(shù)，完全可實(shí)現(xiàn)控制精度波動(dòng)±0.25°c 以?xún)?nèi)，溫控精度更高。

3、加熱速度更快、更快，同時(shí)它可以提供了材料的多種測(cè)試環(huán)境。

六、高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備優(yōu)勢(shì)

1、高速加熱與冷卻方式

高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng)，增設(shè)氣體冷卻裝置，可實(shí)現(xiàn)快速冷卻。

2、溫度高精度控制

近紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用，可以準(zhǔn)確控制樣品的溫度。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。

3、不同環(huán)境下的加熱與冷卻

加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫（高純度惰性氣體 靜態(tài)或流動(dòng)），操作簡(jiǎn)單，使用石英玻璃制成。紅外線(xiàn)可傳送到加熱/冷卻室。

七、更強(qiáng)的擴(kuò)展能力，實(shí)現(xiàn)一機(jī)多用

█ 多功能真空加熱 爐，可實(shí)現(xiàn)高溫、真空、氣氛環(huán)境下電學(xué)測(cè)試

█ 采用鉑金材料作為測(cè)量導(dǎo)線(xiàn)、以減少信號(hào)衰減、提高測(cè)試精度

█ 設(shè)備配置水冷裝置，降溫速度更快、效率更高

█ 可實(shí)現(xiàn)介電溫譜、介電頻譜等測(cè)量功能

█ 溫度傳感器、PID自動(dòng)溫度控制，使測(cè)量溫度精zhun

█ 近紅外加熱，樣品受熱更均勻，不存在感應(yīng)電流，達(dá)到精zhun測(cè)量

█ 10寸觸摸屏設(shè)計(jì)，一體化設(shè)計(jì)機(jī)械結(jié)構(gòu)，穩(wěn)定、可靠

█ 采用高頻測(cè)試線(xiàn)，抗干擾能力強(qiáng)，采集精度高

█ 99氧化鋁陶瓷絕緣，配和鉑金電極夾具

█ huace pro 強(qiáng)大的控制分析軟件與功能測(cè)試平臺(tái)系統(tǒng)相互兼容

八、不一樣的加溫方式及更多的應(yīng)用場(chǎng)景

測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái) Huacepro ，采用labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)，符合功能材料的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備強(qiáng)大的穩(wěn)定性與操作an全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料也可保存恢復(fù)。兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。

█ 多語(yǔ)介面：支持中文/英文 兩種語(yǔ)言界面；

█ 即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無(wú)須等待；

█ 圖例管理：通過(guò)軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對(duì)狀態(tài)說(shuō)明，了解測(cè)試狀態(tài)；

█ 使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；

█ 故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。

█ 試驗(yàn)報(bào)告：自定義報(bào)表格式，一鍵打印試驗(yàn)報(bào)告，可導(dǎo)出EXCEL、PDF格式報(bào)表

十、強(qiáng)大的硬件配置

軟件兼容：Huace（6500、6800）、Keysight（ E4990、E4991、E4980A）、

waynekerr（6500B、6530、4235）同惠（2983、 2838、2851）等阻抗分析儀表。

█ 集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ雙核處理器

█ 集成打機(jī)印接口，可擴(kuò)充8個(gè)USB接口

█ 可支持16G內(nèi)存，60G固態(tài)硬盤(pán)，讓系統(tǒng)運(yùn)行流暢

模式選擇：根據(jù)等效電路可選擇并聯(lián)模式和串聯(lián)模式;

測(cè)量方式：軟件可進(jìn)行介電溫譜與介電頻譜;

溫度設(shè)置：可設(shè)置升溫速度、降溫速度、*大溫度、測(cè)量等待時(shí)間等;

測(cè)量參數(shù)：ε介電常數(shù)、（ε'、ε''介電常數(shù)實(shí)部與虛部）、C電容、(C’、C''電容實(shí)部與虛部、D損耗、阻、(R'、R''電阻實(shí)部與虛部）、Z、（Z'、Z''阻抗實(shí)部與虛部）、Y導(dǎo)納、Y’、Y''（導(dǎo)納實(shí)部與虛部）、X電抗、Q品質(zhì)因數(shù)、cole-cole圖譜、機(jī)電耦合系數(shù)Kp、等；

測(cè)量頻率：軟件可設(shè)置測(cè)試的頻率；

數(shù)據(jù)處理：測(cè)量數(shù)據(jù)生成Excel及pdf兩種文件格式；

圖像處理：測(cè)量曲線(xiàn)可保存。

十、普通參數(shù)：